激光测高测距仪,超声波测高测树仪
ST1200PXC高级激光测高测距仪为加拿大PU测距公司新科技产品,采用世界上新进的激光模块,可以测到1200米远的物体,是一款集成了距离测量、高度测量、角度测量功能于一身的先进设备。
树木茎流测量系统
树木茎流测量系统根据热平衡原理(HB):输入能量等于散失的传导热与茎流温度的升高,具体公式如下:P = Q · dT · cw + dT · z 公式中P为输入能量(W),Q为茎流速度(Kg.sec-2),dT为测量点温度差(K),cw为水的比热(J.kg-1.K-1),z为测量点传导热丧
活体叶面积测量仪LAM-A
“LAM系列活体叶面积测量仪”是杭州树邦仪器有限公司自主创新研发的产品。是一种使用方便,可以在野外工作的便携式仪器。它可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其他片状物体进行面积测量。广泛应用于农业、气象、林业等部分。仪
植物茎向茎杆生长测量系统
北京哈维斯廷科技有限公司 植物径向变化来源于生长及体内含水量的变化.这种变化直接反应植物的生理状况及环境对植物的影响。测量植物径向变化,一方面可以随时了
冻干机
方箱结构,可作原位冻干。 每层独立测温控制,多重温度保护,确保样品安全。 采用专用温度时间软件进行温度控制,整个样品升华过程自动控温。
高级专业版根系分析系统
LAD2400高级专业根系分析仪是一套用于洗根后的专业型根系分析系统,不但可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等基本参数,还可以进行根系颜色分析,根系连接分析,根系拓扑分析等。
HemiView林地树木冠层数字分析系统
北京哈维斯廷科技有限公司 HemiView林地树木冠层数字分析系统:HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。
田间作物高通量表型检测系统
田间作物高通量表型检测系统集光电技术、自动化控制技术和计算机图形处理技术于一体,实现田间小区作物表型参数全自 动、无损、高通量准确提取,可广泛应用于水稻、玉米、小麦、油菜、棉花等作物;系统整体包含田间龙门自动传动单元、成像单元、控制采集/图形数据